Infos

TA 7000 Serie DMA
Dymanisch Mechanischer Analysator

  • Verschiedene Deformationsmodi
  • Zug, Gehaltene Biegung, Kompression, Film Schub, Schub
  • Automatische Kompensation der thermischen Ausdehnung
  • Messung von Einzelfasern, dünnen Folien, Verbundwerksoffe
  • Unerreichte Temperaturkontrolle

Das neue Design der TA 7000 DMA verbindet den großen Lastbereich von bis zu 18 N mit der extrem guten Empfindlichkeit bei der Wegmessung. Da das Gerät sowohl eine Faser mit 0,1 mm Durchmesser als auch einen Verbundwerkstoff hohen Speichermodus messen kann, wird es allen Anwendungen gerecht. Unerreicht ist der wirkliche Messbereich von 10³ bis 1012 Pa.

Synthetischer Oszillationsmodus

Bei diesem von SIINT entwickelten Modus werden mehrere Frequenzen überlagert und mit Hilfe der Fourier Transformation nach der Messung getrennt. Diese Messtechnik gestattet nicht nur kürzere, schnellere Messzyklen, sondern auch erstmal die Messung bei verschiedenen Frequenzen an Proben, die in einem engen Temperaturbereich über mehrere Dekaden erweichen. Erstmalig sind in der DMA Heizraten von bis zu 10K/Min. möglich.

Fourier Transformations-Technik

Unabhängig von der Frequenz, werden 6000 Datenpunkte an einer Sinuswelle ausgewertet. Dadurch wird die notwendige Auflösung im Sb Nanometer Bereich gewährleistet, was genaueste Messergebnisse and dünnen und auch sehr steifen Proben möglich macht.

Automatische Kompensation der Thermischen Ausdehnung

Da es sehr schwer ist, zwischen Thermischer Ausdehnung und der internen Spannung zu unterscheiden, muss letzt genanntes kompensiert werden. Auch das fließen einer Probe führt sonst zu falschen Ergebnissen. Der von Seiko NanoTechnology entwickelte LVDT berücksichtigt all diese Effekte durch die Rückkopplung mit dem hoch präzisen Schrittmotor, der sicher stellt, dass der LVDT immer im linearen Messbereich bleibt.

Weiter Messbereich

Der „Auto Tension Mode“ – automatische Reduktion der Vorspannung – macht Messungen an dünnen Folien und Filmen bis hin zur Einzelfaser von wenigen µm Durchmessern möglich. Hierbei wird die Vorspannung proportional zum Speichermodul reduziert, wenn die Probe erweicht. Das Gerät misst alles, die dicke steife Probe und die Faser.

Software für alle Anwendungen

Es ist eine Seiko Nanotechnoloy Philosophie dem Bediener das leben so einfach wie möglich zu machen. Vor Start einer Messung bietet das Gerät detaillierte Informationen über die optimale Probengeometrie. Optionale Software berechnet Masterkurven nach WLF und auch die Aktivierungsenergie zur Identifikation von Phasenübergängen.

Verschiedene Deformationsmodi

Gehaltene Biegung, Zug, Schubmodul, Film Schub, Dreipunktbiegung und Kompression stellen für as Gerät kein Problem dar. Der Bediener kann einfach zwischen den Messköpfen wechseln. Die Batteriegespeicherte Kalibrierung erspart lästiges und zeitraubendes Nachkalibrieren nach dem Wechsel des Messmodus.

SpecificationsGehaltene BiegungZugSchubFilm SchubKompression3 Punkt Biegung
Messmodi:Dynamisch: Oszillation 0,01 bis 200 Hzsynthetische Oszillation max 5 Freq.Statisch Last geregelt Weggeregelt
Frequenzbereich:0,01 – 200 Hz0,01 – 100 Hz0,01 – 100 Hz0,01 – 100 Hz0,01 – 100 Hz0,01 – 100 Hz
Messbereich:105 – 1012 Pa.105 – 1012 Pa.103 – 109 Pa.107 – 1011 Pa.107 – 109 Pa.105 – 1010 Pa.
Temperaturbereich:-150 bis 600°C-150 bis 600°C-150 bis 600°C-150 bis 600°C-150 bis 600°C-150 bis 600°C
Heizraten:0,01 bis 100°C/Min.0,01 bis 100°C/Min.0,01 bis 100°C/Min.0,01 bis 100°C/Min.0,01 bis 100°C/Min.0,01 bis 100°C/Min.
Probengeometrie:Länge: 50 mm
Dicke: 5 mm
Breite: 16mm
Länge: 5-35 mm
Dicke: 3 mm
Breite: 10mm
Querschnitt: 10 mm²
Dicke: 7 mm
Länge: 50 mm
Dicke: 0,5 mm
Breite: 10mm
Länge: 15 mm
Durchmesser: 10 mm
Länge: 50 mm
Dicke: 5 mm
Breite: 16mm




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